平成28年度から申込方法が変わります

「表面分析装置の共同利用による材料開発の高度化」

この事業は、名古屋工業大学大型設備基盤センターに設置されている表面分析等の装置を、民間企業、大学等の皆様に開放して、高機能・高性能材料開発を推進することを目的としています。
平成27年度までに文部科学省「先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業」として実施してきましたが、平成28年度からは、本学独自事業としてのリニューアルいたしました。

  • 電解放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
  • ナノ走査プローブ顕微鏡(SPM)
  • 電子プローブマイクロアナライザー(FE-EPMA)
  • オージェ電子分光分析装置(FE-AES)
  • 二次イオン質量分析装置(SIMS)
  • X線光電子分析装置(ESCA)
  • レーザー脱離イオン化質量分析装置(MADLI-MS)
  • X線CT装置(XCT)
  • 軟X線分析装置(SXES)
  • 飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
  • 低加速電界放出形走査電子顕微鏡(L-FE-SEM)