装置一覧

HOME > 共用促進講座 表面分析を上手に依頼する・利用する・使いこなす

=共用促進講座=
表面分析を上手に依頼する・利用する・使いこなす

対象初級中・上級

平成27年度(第2回)講座概要

ご好評のうちに終了しました。
ありがとうございました。

日程 平成28年3月3日(木) TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)基礎コース コース1
平成28年3月4日(金)
平成28年3月9日(水) ESCA(X線光電子分光装置)応用コース コース2
平成28年3月10日(木)
時間 10:00~16:00
場所 名古屋工業大学 大型設備基盤センター(22号館)
内容 講義と実機操作見学
定員 各コースとも定員10名(先着順)

参加申込方法

参加ご希望の皆様へ

参加をご希望の方は以下の[お申込みの際の記載項目]をご記入の上、各コースの開催日の7日前までにメールにてお申込みください。

E-mail hyomen-irc
※アドレスの末尾に「@adm.nitech.ac.jp」を補完してください

お申込みの際の記載項目

件名:【共用促進講座申込】

--------------------------------------------

本文

  • 参加コース(複数コースお申込み可)
  • 会社名(機関名)
  • 所在地(郵便番号、住所)
  • 部署名・役職
  • 電話番号
  • お名前(ふりがな)
  • E-mail
  • * 複数名でご参加の場合は、お手数ですがお1人様ずつお申込みください。
  • * 同一コースへの申込みは1社につき原則2名様とさせていただきます。
    (3名以上での受講をご希望の場合はご相談ください。)
  • * 締切後も空きがあれば、受付可能なコースもございます。お気軽にお問い合わせ下さい。

コース詳細

コース
番号
コース名 実施日時 講演・実習内容
1 TOF-SIMS 基礎コース 3月3日~3月4日

飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time-of-Flight Secondary Mass Spectrometry)について、簡単な基本原理及びその特徴を紹介します。
特に本装置には「Arガスクラスターイオン銃(GCIB)」が搭載されており、TOF-SIMSとGCIBの組合せを中心に測定事例を紹介します。
また、実際の測定の様子を見学いただきます。

2 ESCA 応用コース 3月9日~3月10日 ESCA(別称:XPS)装置:PHI VersaProbeを用いた測定の解説と講義を行います。
簡単な測定原理の説明の後、実サンプルに近い実践的な試料の測定解析例を紹介します。例として、燃料電池の劣化、ポリマーの表面処理、電子デバイス電極の変色解析などを紹介します。また、低損傷測定、粉体測定、イオン銃の選択などについても説明します。
例の内いくつかを実際に装置を使って測定し、その様子を見学いただきます。

タイムスケジュール

*状況により当日変更する可能性がございます。

1日目
時間 内容 場所
9:45~10:00 受付 22号館入口
10:00~10:05 主催者挨拶・講師紹介 22号館 2階 会議室
10:05~12:00 講義
12:00~13:00 (休憩)
13:00~14:30 測定見学 各種装置
設置場所
14:40~16:00 データ説明と解析 22号館
2階 会議室
2日目
時間 内容 場所
9:45~10:00 受付 22号館入口
10:00~12:00 講義 22号館 2階 会議室
12:00~13:00 (休憩)
13:00~14:30 測定見学
14:40~15:45 データ説明と解析 各種装置
設置場所
15:45~16:00 本事業紹介
修了証書授与
アンケート提出・解散
22号館
2階 会議室

お申込み・お問い合わせ

名古屋工業大学 大型設備基盤センター 先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業
担当:安井、杉本、加藤、平岡

TEL 052-735-7117
FAX 052-735-7117
E-mail hyomen-irc
※アドレスの末尾に「@adm.nitech.ac.jp」を補完してください
  • 事業紹介パンフレット
  • 各種書式
  • 名古屋工業大学大型設備基盤センター