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平成26年度第1回「先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業」説明会・見学会・技術相談会を開催いたします。(8月26日(火))

名古屋工業大学では、平成21年度より文部科学省「先端研究施設共用促進事業」において、大型設備基盤センターに設置されている表面分析装置を民間企業等の皆様に広く開放し、材料開発の高度化を推進する事業を展開しています。平成25年度からは、これまでの事業を発展強化して、「先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業」として実施しております。

今年度からは、これまでの8台の最新鋭の表面分析装置[電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)、ナノ走査プローブ顕微鏡(SPM)、電子プローブマイクロアナライザー(FE-EPMA)、オージェ電子分光分析装置(FE-AES)、二次イオン質量分析装置(SIMS)、X線光電子分光装置(ESCA)、レーザー脱離イオン化質量分析装置(MALDI-MS)、X線CT装置(XCT)]に、新たに3台の装置[低加速電界放出形走査電子顕微鏡(L-FE-SEM)、飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)、軟X線分析装置(SXES)]が加わり、11台の装置がご利用いただけるようになりました。本事業はこれまでも多くの企業、機関にご好評をいただいておりますが、さらに充実した体制をご紹介すべく、今年度第1回の事業説明会・見学会・技術相談会を開催することといたしました。是非、この機会に皆様にご参加いただきますようお願い申し上げます。

日時

平成26年8月26日(火)13時30分~16時30分

場所

名古屋工業大学 大型設備基盤センター 22号館 2階 会議室

内容

1.挨拶

講演者名

大型設備基盤センター長 種村眞幸

時間

13時30分~13時35分

2.講演

(1)ものづくりを支える表面分析

講演者名

大型設備基盤センター長 種村眞幸

時間

13時35分~14時05分

(2)本事業の説明

講演者名

共用促進リエゾン 宇佐美隆生

時間

14時05分~14時10分


(休憩5分)

3.装置見学・装置活用方法説明

講演者名
装置名 講演者
MALDI-MS 大谷肇
XCT 杉田修啓
L-FE-SEM 柳原利成
TOF-SIMS 江龍修
SXES 加藤昭実
時間

14時15分~16時00分


(休憩5分)

4.技術相談会

時間

16時05分~16時30分

お申込み先

宛先 名古屋工業大学 大型設備基盤センター
先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業
Tel 052-735-7117
Fax 052-735-7117
E-mail hyomen-irc
※アドレスの末尾に「@adm.nitech.ac.jp」を補完してください

参加ご希望の皆様へ

定員30人 定員に達し次第締め切ります。
参加をご希望の方は会社名・担当部課名・Email・氏名をご記入の上、8月20日(水)までに、お手数ですがメールかFAXにてお知らせください。

  • 事業紹介パンフレット
  • 各種書式
  • 名古屋工業大学大型設備基盤センター